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手账风科普配图,主题为DRC设计规则检查,内容说明为:避免尺寸违规,加入真实案例对比,左侧"没检查的后果:流片尺寸不合格报废,损失数十万",右侧"检查后的效果:尺寸合规一次流片成功",手账风加轻科技元

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2026.07.17
[第2屏] DRC检查对比页,芯片流片DRC检查前后效果对比,主题DRC:别信直觉,信规则。本屏为纯图文技术科普。 [氛围/风格] 手绘工程笔记风格,对比清晰,专业真实,手绘标注感。 [元素布局] 页面左侧为没检查的失败案例:绘制电子束曝光的线条拐角,拐角用红笔圈出,旁边标注文字,下方小字说明,底部标注真实数据。页面右侧为检查后的成功案例:同样拐角添加补针,箭头指向补针位置标注文字,下方效果说明。中间手绘虚线竖线分隔左右,细线小方块阵列底纹,透明度15%。页面底部放置总结语句,使用荧光笔涂底。左右布局对称,文字不遮挡核心图形。 [光影质感] 整体光线均匀,图形和文字清晰,对比分明,笔记质感。 [配色色系] 全局底色 #F7F6F3;文字深灰 #222;红笔标注错误,蓝色 #2B5FBF 画圈和箭头,荧光黄 #FFE55C 涂底高亮总结句。严格遵循用户配色要求,无渐变,无3D效果。 [文字版式] 本页标题:图1 DRC:别信直觉,信规则。左侧文字:设计画的是90nm直线,曝光出来拐角缩了快15nm,后道刻蚀直接断在这。底下小字:当时觉得差不多能曝出来,结果整版废了,数据标注:CD误差约 15–20nm,失败片数:一整张4寸片。右侧文字:跑完DRC后加了剂量补偿,最终测出来线宽89.6nm。底下文字:实际验证:同一批片子,跑了DRC的版图完好,没跑的翻车。底部总结:DRC不是形式主义,是告诉你这尺寸能不能做出来。做不出来就别送,荧光底。字体黑体倾斜,手写感,文字清晰。 [比例分辨率] 宽度768px,高度1024px,3:4 竖版比例,4K分辨率,文字清晰可辨,高清画质。 [负向提示词] 文字错乱,文字过小,颜色偏差,渐变,拟物化3D,玻璃质感,水印,变形,图形错误[第2屏] DRC检查对比页,芯片流片DRC检查前后效果对比,主题DRC:别信直觉,信规则。本屏为纯图文技术科普。
[氛围/风格] 手绘工程笔记风格,对比清晰,专业真实,手绘标注感。
[元素布局] 页面左侧为没检查的失败案例:绘制电子束曝光的线条拐角,拐角用红笔圈出,旁边标注文字,下方小字说明,底部标注真实数据。页面右侧为检查后的成功案例:同样拐角添加补针,箭头指向补针位置标注文字,下方效果说明。中间手绘虚线竖线分隔左右,细线小方块阵列底纹,透明度15%。页面底部放置总结语句,使用荧光笔涂底。左右布局对称,文字不遮挡核心图形。
[光影质感] 整体光线均匀,图形和文字清晰,对比分明,笔记质感。
[配色色系] 全局底色 #F7F6F3;文字深灰 #222;红笔标注错误,蓝色 #2B5FBF 画圈和箭头,荧光黄 #FFE55C 涂底高亮总结句。严格遵循用户配色要求,无渐变,无3D效果。
[文字版式] 本页标题:图1 DRC:别信直觉,信规则。左侧文字:设计画的是90nm直线,曝光出来拐角缩了快15nm,后道刻蚀直接断在这。底下小字:当时觉得差不多能曝出来,结果整版废了,数据标注:CD误差约 15–20nm,失败片数:一整张4寸片。右侧文字:跑完DRC后加了剂量补偿,最终测出来线宽89.6nm。底下文字:实际验证:同一批片子,跑了DRC的版图完好,没跑的翻车。底部总结:DRC不是形式主义,是告诉你这尺寸能不能做出来。做不出来就别送,荧光底。字体黑体倾斜,手写感,文字清晰。
[比例分辨率] 宽度768px,高度1024px,3:4 竖版比例,4K分辨率,文字清晰可辨,高清画质。
[负向提示词] 文字错乱,文字过小,颜色偏差,渐变,拟物化3D,玻璃质感,水印,变形,图形错误
[第2屏] DRC检查对比页,芯片流片DRC检查前后效果对比,主题DRC:别信直觉,信规则。本屏为纯图文技术科普。 [氛围/风格] 手绘工程笔记风格,对比清晰,专业真实,手绘标注感。 [元素布局] 页面左侧为没检查的失败案例:绘制电子束曝光的线条拐角,拐角用红笔圈出,旁边标注文字,下方小字说明,底部标注真实数据。页面右侧为检查后的成功案例:同样拐角添加补针,箭头指向补针位置标注文字,下方效果说明。中间手绘虚线竖线分隔左右,细线小方块阵列底纹,透明度15%。页面底部放置总结语句,使用荧光笔涂底。左右布局对称,文字不遮挡核心图形。 [光影质感] 整体光线均匀,图形和文字清晰,对比分明,笔记质感。 [配色色系] 全局底色 #F7F6F3;文字深灰 #222;红笔标注错误,蓝色 #2B5FBF 画圈和箭头,荧光黄 #FFE55C 涂底高亮总结句。严格遵循用户配色要求,无渐变,无3D效果。 [文字版式] 本页标题:图1 DRC:别信直觉,信规则。左侧文字:设计画的是90nm直线,曝光出来拐角缩了快15nm,后道刻蚀直接断在这。底下小字:当时觉得差不多能曝出来,结果整版废了,数据标注:CD误差约 15–20nm,失败片数:一整张4寸片。右侧文字:跑完DRC后加了剂量补偿,最终测出来线宽89.6nm。底下文字:实际验证:同一批片子,跑了DRC的版图完好,没跑的翻车。底部总结:DRC不是形式主义,是告诉你这尺寸能不能做出来。做不出来就别送,荧光底。字体黑体倾斜,手写感,文字清晰。 [比例分辨率] 宽度768px,高度1024px,3:4 竖版比例,4K分辨率,文字清晰可辨,高清画质。 [负向提示词] 文字错乱,文字过小,颜色偏差,渐变,拟物化3D,玻璃质感,水印,变形,图形错误[第2屏] DRC检查对比页,芯片流片DRC检查前后效果对比,主题DRC:别信直觉,信规则。本屏为纯图文技术科普。
[氛围/风格] 手绘工程笔记风格,对比清晰,专业真实,手绘标注感。
[元素布局] 页面左侧为没检查的失败案例:绘制电子束曝光的线条拐角,拐角用红笔圈出,旁边标注文字,下方小字说明,底部标注真实数据。页面右侧为检查后的成功案例:同样拐角添加补针,箭头指向补针位置标注文字,下方效果说明。中间手绘虚线竖线分隔左右,细线小方块阵列底纹,透明度15%。页面底部放置总结语句,使用荧光笔涂底。左右布局对称,文字不遮挡核心图形。
[光影质感] 整体光线均匀,图形和文字清晰,对比分明,笔记质感。
[配色色系] 全局底色 #F7F6F3;文字深灰 #222;红笔标注错误,蓝色 #2B5FBF 画圈和箭头,荧光黄 #FFE55C 涂底高亮总结句。严格遵循用户配色要求,无渐变,无3D效果。
[文字版式] 本页标题:图1 DRC:别信直觉,信规则。左侧文字:设计画的是90nm直线,曝光出来拐角缩了快15nm,后道刻蚀直接断在这。底下小字:当时觉得差不多能曝出来,结果整版废了,数据标注:CD误差约 15–20nm,失败片数:一整张4寸片。右侧文字:跑完DRC后加了剂量补偿,最终测出来线宽89.6nm。底下文字:实际验证:同一批片子,跑了DRC的版图完好,没跑的翻车。底部总结:DRC不是形式主义,是告诉你这尺寸能不能做出来。做不出来就别送,荧光底。字体黑体倾斜,手写感,文字清晰。
[比例分辨率] 宽度768px,高度1024px,3:4 竖版比例,4K分辨率,文字清晰可辨,高清画质。
[负向提示词] 文字错乱,文字过小,颜色偏差,渐变,拟物化3D,玻璃质感,水印,变形,图形错误
小红书笔记封面,配图大字,简洁试卷风,版式精美,小红书笔记封面质感,适合信息流点击。主标题(题目)字号缩小,置于画面顶部,逐字锁定:「光芯片研发最让你头疼的环节是?」。题目字号占画面约15%视觉权重,黑色粗黑体,简洁无多余装饰。画面主体为四个放大的选项,每个选项配对应主题小图标/小插图,ABCD四个选项占画面约70%视觉权重,字号大且清晰,逐字锁定选项内容——A. 仿真设计(FDTD跑不动,COMSOL不收敛);B. 版图绘制(DRC/LVS报错改到崩溃);C. 工艺流片(等仨月出来良率感人);D. 封装测试(耦合对准对到怀疑人生)。四个选项分四行整齐排列,每个选项左侧或上方配一个简约线条小图标(A配电脑/波形图标,B配版图/芯片线条图标,C配晶圆/工厂图标,D配探针/测试图标),图标与文字组合,选项文字放大,醒目易读。背景:干净的米白或浅灰纯色底,极淡的试卷纸质感,去掉装订线、打孔、得分栏等多余装饰全部移除,整体极简清爽。装饰:仅保留左上角一个小型红色「灵魂拷问」印章,其余装饰全部去掉,emoji不超过1个,克制简洁。整体氛围:简洁清爽,选项突出,题目小而清晰,考试灵魂拷问感,信息层级:选项 > 题目。画质:高清细腻,文字完整处于安全区内不可裁切,四周留安全边距,黑白为主红色点缀,强对比可读。画面比例 3:4,4K。小红书笔记封面,配图大字,简洁试卷风,版式精美,小红书笔记封面质感,适合信息流点击。主标题(题目)字号缩小,置于画面顶部,逐字锁定:「光芯片研发最让你头疼的环节是?」。题目字号占画面约15%视觉权重,黑色粗黑体,简洁无多余装饰。画面主体为四个放大的选项,每个选项配对应主题小图标/小插图,ABCD四个选项占画面约70%视觉权重,字号大且清晰,逐字锁定选项内容——A. 仿真设计(FDTD跑不动,COMSOL不收敛);B. 版图绘制(DRC/LVS报错改到崩溃);C. 工艺流片(等仨月出来良率感人);D. 封装测试(耦合对准对到怀疑人生)。四个选项分四行整齐排列,每个选项左侧或上方配一个简约线条小图标(A配电脑/波形图标,B配版图/芯片线条图标,C配晶圆/工厂图标,D配探针/测试图标),图标与文字组合,选项文字放大,醒目易读。背景:干净的米白或浅灰纯色底,极淡的试卷纸质感,去掉装订线、打孔、得分栏等多余装饰全部移除,整体极简清爽。装饰:仅保留左上角一个小型红色「灵魂拷问」印章,其余装饰全部去掉,emoji不超过1个,克制简洁。整体氛围:简洁清爽,选项突出,题目小而清晰,考试灵魂拷问感,信息层级:选项 > 题目。画质:高清细腻,文字完整处于安全区内不可裁切,四周留安全边距,黑白为主红色点缀,强对比可读。画面比例 3:4,4K。
[第4屏] DFM检查对比页,芯片流片DFM检查前后效果对比,主题DFM:密度不均等于局部全废。本屏为纯图文技术科普。 [氛围/风格] 手绘工程笔记风格,清晰展示密度差异对比,专业真实的工艺笔记质感。 [元素布局] 页面左侧为没检查的失败案例:绘制曝光区域,左侧密集线条,右侧大面积空白,密集区边缘画雾状晕影,旁边标注问题说明和线宽变化,下方写出良率结果。页面右侧为检查后的成功案例:同一区域,空白处增加填充小方块,密度均匀,旁边标注改善后效果,下方写出改善后的良率,中间手绘虚线竖线分隔左右,细线小方块阵列底纹,透明度15%。页面底部放置手写总结句。左右布局对称,图形和文字不互相遮挡。 [光影质感] 整体光线均匀,图形层次清晰,文字清晰,保持纸质笔记柔和质感。 [配色色系] 全局底色 #F7F6F3;文字深灰 #222;雾状晕影标注问题区域,蓝色标注结构,无渐变,无3D效果,遵循用户指定配色方案。 [文字版式] 本页标题:图3 DFM:密度不均等于局部全废。左侧文字:图形密度差太大,散射电子把旁边不该曝的地方全曝了。标注文字:显影出来密集区线宽细了8nm,空旷区留底没开干净。下方结果:整版良率不到百分之四十,只有中间一小块能用。右侧文字:DFM自动补了填充图形,全视野线宽差控制在正负2nm以内。下方结果:同样设计,跑过DFM的片子良率实测百分之九十二。底部手写总结:电子束最怕密度突变。你不做DFM,束流就给你颜色看。字体黑体倾斜,手写感,文字大小合适清晰可读。 [比例分辨率] 宽度768px,高度1024px,3:4 竖版比例,4K分辨率,文字清晰可辨,高清画质。 [负向提示词] 文字错乱,文字过小,颜色偏差,渐变,拟物化3D,玻璃质感,水印,变形,图形布局错误[第4屏] DFM检查对比页,芯片流片DFM检查前后效果对比,主题DFM:密度不均等于局部全废。本屏为纯图文技术科普。
[氛围/风格] 手绘工程笔记风格,清晰展示密度差异对比,专业真实的工艺笔记质感。
[元素布局] 页面左侧为没检查的失败案例:绘制曝光区域,左侧密集线条,右侧大面积空白,密集区边缘画雾状晕影,旁边标注问题说明和线宽变化,下方写出良率结果。页面右侧为检查后的成功案例:同一区域,空白处增加填充小方块,密度均匀,旁边标注改善后效果,下方写出改善后的良率,中间手绘虚线竖线分隔左右,细线小方块阵列底纹,透明度15%。页面底部放置手写总结句。左右布局对称,图形和文字不互相遮挡。
[光影质感] 整体光线均匀,图形层次清晰,文字清晰,保持纸质笔记柔和质感。
[配色色系] 全局底色 #F7F6F3;文字深灰 #222;雾状晕影标注问题区域,蓝色标注结构,无渐变,无3D效果,遵循用户指定配色方案。
[文字版式] 本页标题:图3 DFM:密度不均等于局部全废。左侧文字:图形密度差太大,散射电子把旁边不该曝的地方全曝了。标注文字:显影出来密集区线宽细了8nm,空旷区留底没开干净。下方结果:整版良率不到百分之四十,只有中间一小块能用。右侧文字:DFM自动补了填充图形,全视野线宽差控制在正负2nm以内。下方结果:同样设计,跑过DFM的片子良率实测百分之九十二。底部手写总结:电子束最怕密度突变。你不做DFM,束流就给你颜色看。字体黑体倾斜,手写感,文字大小合适清晰可读。
[比例分辨率] 宽度768px,高度1024px,3:4 竖版比例,4K分辨率,文字清晰可辨,高清画质。
[负向提示词] 文字错乱,文字过小,颜色偏差,渐变,拟物化3D,玻璃质感,水印,变形,图形布局错误